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SPM-8000 科研級(jí)快速光譜儀

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杭州翊明科技有限公司

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SPM-8000科研級(jí)快速光譜分析系統(tǒng)SPM-8000科研級(jí)快速光譜儀采樣科學(xué)級(jí)CCD探測(cè)器和低雜散光光學(xué)分光平臺(tái)以及的電子電路技術(shù)，大大提高了光譜響應(yīng)能力和光學(xué)分辨率，為科學(xué)研究和高精度測(cè)量提供了強(qiáng)有力的手段

詳細(xì)介紹

SPM-8000 科研級(jí)快速光譜分析系統(tǒng)

SPM-8000科研級(jí)快速光譜儀采樣科學(xué)級(jí)CCD探測(cè)器和低雜散光光學(xué)分光平臺(tái)以及的電子電路技術(shù)，大大提高了光譜響應(yīng)能力和光學(xué)分辨率，為科學(xué)研究和高精度測(cè)量提供了強(qiáng)有力的手段。SPM-8000在紫外和近紅外具有的響應(yīng)度，廣泛應(yīng)用與照明行業(yè)的全光譜測(cè)試。

▲ 滿足IESNA LM-79和GB/T 24824標(biāo)準(zhǔn)要求。

▲ 測(cè)試結(jié)果溯源至中國國家（NIM）。 ▲ 制冷背投式CCD，靈敏度高、動(dòng)態(tài)范圍寬。 ▲ 用戶可自行進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)和驗(yàn)證，無需將系統(tǒng)返廠校正。 ▲ 快速采集數(shù)據(jù)，實(shí)時(shí)顯示。 ▲ 多圖形顯示參數(shù)，直觀便于理解。

▲技術(shù)參數(shù)

* 日本濱松高靈敏度背照式制冷型CCD探測(cè)器

* 波長范圍: 200nm~1100nm可定制

* 雜散光：小于0.01%

* 光度線性度：０.２％

* 積分時(shí)間：5ms~15min

* 信號(hào)動(dòng)態(tài)比：25000:1

▲典型應(yīng)用

* 翊明積分球光色電綜合測(cè)試系統(tǒng)

* 植物照明光通光子測(cè)量

* 紫外光源測(cè)試

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