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北京聚光盈安科技有限公司
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閱讀：5發(fā)布時間：2024-9-6
產(chǎn)品特點
Part 01
采用科研級CMOS傳感器
M4000 PLUS全譜直讀光譜儀采用了科研級CMOS檢測器，繼承M4000型直讀光譜儀的全譜分析特性同時，開創(chuàng)了PPM級元素分析新紀(jì)元。
• 噪聲低：科研級感光元器件，噪聲小，抗干擾強(qiáng)，具備防光暈技術(shù)
• 抗干擾：CMOS探測器集成度高，可避免外部電路引入噪聲
• 讀取速度快：采用OEO（Optimal Element-Oriented）技術(shù)，像素信號單獨讀取，實現(xiàn)參數(shù)優(yōu)化設(shè)計
• 紫外響應(yīng)高：高紫外響應(yīng)靈敏度，無需鍍膜，實現(xiàn)非金屬元素（C,S,P）分析，效果更優(yōu)
Part 02
的密封氬氣循環(huán)系統(tǒng)
?光室密封性更佳，可保持內(nèi)部氬氣長期純凈
?紫外分析環(huán)境與真空光室的10-3Pa相當(dāng)，優(yōu)化了短波元素的分析性能
?氬氣循環(huán)過濾裝置，可有效濾除空氣分子，提高光室的可靠性
?光室內(nèi)外壓力差幾乎為零，可有效避免大氣壓力引起的光學(xué)系統(tǒng)漂移，進(jìn)而提高產(chǎn)品的長期穩(wěn)定性
?降低充氬系統(tǒng)的氬氣消耗，有效節(jié)約生產(chǎn)成本
Part 03
易用體驗升級
? 優(yōu)質(zhì)硬件與特定算法的結(jié)合，多重穩(wěn)定保障，更好地監(jiān)控儀器運行狀態(tài)，提升分析效果，減少校準(zhǔn)頻率
? 支持全譜分析檢測，拓展性更高，增加分析基體和元素?zé)o需增加硬件，通過軟件即可擴(kuò)展分析范圍，使用更靈活
? 智能曲線功能可滿足對所有材料的分析需求，真正實現(xiàn)未知樣品分析，無需糾結(jié)模型選擇，操作更加簡便
? 友好的人機(jī)交互設(shè)計，軟件主界面簡潔清晰，圖形化顯示，短時間即可學(xué)會并熟練操作軟件
? 新增遠(yuǎn)程維護(hù)功能，可遠(yuǎn)程升級固件程序，遠(yuǎn)程檢查儀器狀態(tài)，對儀器生命周期健康負(fù)責(zé)
技術(shù)性能
01
智能可靠的全數(shù)字光源
可編程脈沖合成全數(shù)字光源，適用于激發(fā)各種合金材料，有利于提高分析精度
02
方便的樣品激發(fā)臺
·開放式樣品激發(fā)臺，內(nèi)部體積進(jìn)一步縮小，使氬氣消耗更低
·四路氬氣吹掃，可有效移除殘留粉塵，降低激發(fā)臺維護(hù)量
03
穩(wěn)定的光學(xué)系統(tǒng)
·帕型-龍格光學(xué)結(jié)構(gòu)，多個高性能的CMOS探測器
·可實時監(jiān)控的恒溫光室，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
04
個性化的樣品夾具
可適用于分析不同幾何形狀的大/小樣品
05
人性化的一鍵式激發(fā)
·樣品裝載激發(fā)一氣呵成，直接得到最終結(jié)果
·適應(yīng)工廠檢測環(huán)境，有效提升工作效率
06
的實時智能漂移校正技術(shù)
漂移校正前后對比圖
·在分析過程中實時進(jìn)行光譜漂移校正，增強(qiáng)儀器穩(wěn)定性
·減少標(biāo)準(zhǔn)化校正次數(shù)，延長校正周期
·自動完成儀器校正，操作更加簡便
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