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奧林巴斯XRD（BTX-II）便攜式X射線衍射儀

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北京新源志勤科技開發(fā)有限責(zé)任公司

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產(chǎn)品簡介

X射線衍射技術(shù)/發(fā)展史X射線衍射技術(shù)/集成技術(shù)BTXPROFILER的XRD技術(shù)來自于美國宇航局NASA埃姆斯實(shí)驗(yàn)室，該技術(shù)曾被美國宇航局火星計(jì)劃好奇號、漫游者使用過；XRF技術(shù)則是奧林巴斯ED-XRF技術(shù)的結(jié)晶，兩大技術(shù)結(jié)合，可以提供材料的元素、成分、結(jié)構(gòu)等全方面的信息，可減少實(shí)驗(yàn)成本，節(jié)約時(shí)間和空間

詳細(xì)介紹

X射線衍射技術(shù)/發(fā)展史

X射線衍射技術(shù)/集成技術(shù)

BTX PROFILER的XRD技術(shù)來自于美國宇航局NASA埃姆斯實(shí)驗(yàn)室，該技術(shù)曾被美國宇航局火星計(jì)劃"好奇號"、"漫游者"使用過；XRF技術(shù)則是奧林巴斯ED-XRF技術(shù)的結(jié)晶，兩大技術(shù)結(jié)合，可以提供材料的元素、成分、結(jié)構(gòu)等全方面的信息，可減少實(shí)驗(yàn)成本，節(jié)約時(shí)間和空間。BTX PROFILER 采用兩套獨(dú)立的X射線源和探測器，以保證快速獲取全面優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)信息，XRD部分使用CCD二維面探測

器，該探測器可以獲取整個(gè)德拜環(huán)的衍射數(shù)據(jù)信息，XRF部分則采用SDD探測器，實(shí)現(xiàn)更低的檢測下限和更高的靈敏度。

技術(shù)規(guī)格

XRD和XRF組合技術(shù)

①XRD微聚焦X射線管

②XRD X射線束

③XRD準(zhǔn)直器 ④XRD樣品

⑤CCD探測器 ⑥XRF X射線管

⑦濾光輪 ⑧XRF X射線束

⑨XRF樣品 ⑩ XRF SDD探測器

用于化合物分析的二維XRD

XRD采用透射衍射幾何技術(shù)，使用能量敏、

位敏的二維CCD面探測器，實(shí)現(xiàn)了儀器的小

型化和更為緊湊的結(jié)構(gòu)

1、探測器收集整個(gè)德拜環(huán)的信息而非傳統(tǒng)

臺式機(jī)只能收集德拜環(huán)一個(gè)截面的信息，增大

了數(shù)據(jù)

2、檢測快速，全譜顯示而非步進(jìn)掃描，普通樣

品分鐘即可

無測角儀的XRD

使用樣品振動(dòng)系統(tǒng)(樣品在檢測過程中以6000hz的頻率隨機(jī)振動(dòng))，替代傳統(tǒng)臺式XRD測角儀可以實(shí)現(xiàn)以下功能：

1、樣品制備簡單：樣品無需制片、壓片、刮片，只需得到<150um的顆粒即可；2、實(shí)現(xiàn)樣品顆粒的全方位角度的檢測；3、完全消除檢測過程中晶體的擇優(yōu)取向；4、增加了樣品檢測量

用于全元素分析的能量色散型（ED）XRF

1、大功率射線管，配以超大面積SDD探測器；2、真正實(shí)現(xiàn)了在現(xiàn)場進(jìn)行快速，準(zhǔn)確的檢測；3、直接顯示元素的ppm含量與百分比含量；4、全元素分析，從鎂（Mg）到鈾（U）之間的所有元素； 5、7個(gè)濾光片設(shè)置，可根據(jù)元素自動(dòng)選擇濾光片；6、可選配氦氣裝置進(jìn)一步提高輕質(zhì)元素的檢測效果；

XRD-XRF聯(lián)用儀/軟件

XRD

XRD使用xpowder分析軟件，該軟件可提供包括背景扣除、平滑處理、Ka2峰剝離、多譜圖疊加等功能，可以進(jìn)行物相定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)精修處理、結(jié)晶度分析、晶粒度分析等功能。

物相定量分析可以使用RIR值及里特維德全譜擬合，實(shí)現(xiàn)復(fù)雜混合物的準(zhǔn)確定量，尤其適合于礦物的全巖成分分析。

XRF

XRF數(shù)據(jù)處理軟件提供有關(guān)材料的定性、定量信息，其中包含光譜視圖和元素峰值辨別。定量分析使用基本參數(shù)（FP）法。在實(shí)際應(yīng)用中，可以使用一系列用戶的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)對這些基本參數(shù)校準(zhǔn)進(jìn)行優(yōu)化（經(jīng)驗(yàn)分析）。使用離線“方法建立器”軟件包可以優(yōu)化校準(zhǔn)曲線，自行定制分析程序，并將分析程序下載到分析儀器。

軟件還提供了其它一些用于分析的性能，如：查看元素范圍、

可選峰值識別、顯示含量結(jié)果，以及樣件組的頻譜覆蓋。

XRD-XRF聯(lián)用儀/應(yīng)用領(lǐng)域

BTX PROFILER集成二維XRD技術(shù)及ED-XRF技術(shù)，可對材料實(shí)現(xiàn)全面的分析檢測，提供材料的元素組成、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)等方面的信息。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)礦產(chǎn)、石油地質(zhì)錄井、地球化學(xué)、制藥、催化劑、法醫(yī)、材料等工業(yè)及科研領(lǐng)域。

礦物鑒定 XRD錄井鉆井催化劑研發(fā) 選礦效率

礦石品位能源勘探腐蝕物鑒定與防腐

石油地質(zhì) 藥物多晶型材料成分及結(jié)構(gòu)

XRF錄井鉆井真假藥識別教育與科研

XRD-XRF聯(lián)用儀/配置

1、儀器標(biāo)配一個(gè)樣品系統(tǒng)，檢測時(shí)只能對單個(gè)樣品進(jìn)行檢測分析。

2、可選配氦氣凈化裝置，有利于Mg、Al、Si、P、S等輕元素的檢測

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